Микроскоп

Микроскоп

Микроскоп (microscope), оптич. М. — инструмент, в к-ром используется линза (линзы и системы линз) или комбинация линз для получения увеличенного изображения очень малых объектов, напр, клеток (строение клетки). В нек-рых типах М. применяют излучение в более широком диапазоне, чем видимый свет. Простейший вид М. — увеличительное стекло. Считается, что М. был изобретен голл. оптиком Захарией Янсеном ок. 1590 г. Однако пальма первенства оспаривается еще неск. мастерами, работавшими в то же время. Препарат, предназначенный для изучения под увеличением, помещают на предметный столик, и линзы объектива формируют его перевернутое изображение. Линзы окуляра увеличивают и инвертируют это первое изображение, воспроизводя исходный объект. Обычно свет проходит сквозь изучаемый объект. Препараты, достаточно тонкие для того, чтобы пропускать свет, помещают на предметное стекло и накрывают др. стеклом. Чаще всего они бесцветны, поэтому для выявления структуры их окрашивают. При изучении структуры кристаллов применяют поляризацию света. В ультрамикроскопии жидкие суспензии (р-ры) подсвечивают сбоку, и движение частиц наблюдается в виде мерцания на фоне темного экрана. Стереоскопические М., часто используемые в хирургии, имеют две оптич. системы (для каждого глаза), это дает возможность рассматривать наблюдаемый объект под разным углом и создает объемное изображение. Линзы иммерсионных объективов обладают большей разрешающей способностью (способностью различать детали), что достигается путем заливки спец. масла между линзой объектива и покровным стеклом. Обычные световые М. конструктивно имеют верхний предел увеличения до х2 000, а электронные М. (электрон) позволяют получить увеличение более чем в 1 млн. раз. Для спец. исследовательских целей разработаны др. типы М. В протонном М. используют тонко сфокусированный пучок протонов с высокой энергией. Этот М. служит для изучения образцов большей толщины и исследования хим. состава в-в. В рентгеновской микроскопии для получения данных о кристаллическом строении в-ва применяется концентрированный пучок рентгеновского излучения. В эмиссионном М. образец подвергается воздействию электрич. полей или высоких темп-р. Это позволяет наблюдать процессы, происходящие в твердых телах, напр. коррозию и осаждение из газовой фазы. В акустическом М. вместо видимого света используется высокочастотный ультразвук: интенсивность отражения исследуемым объектом звуковых волн изменяется в зависимости от того, сколько акустической энергии может поглотить данное кол-во в-ва. Акустические М. необходимы для биол. исследований и поиска неисправностей в интегральных схемах. Сравнительно недавнее изобретение для исследования поверхностей — сканирующий туннельный М. (СТМ). Он измеряет расстояние, отделяющее точечный детектор от поверхности изучаемого образца, с помощью «туннельного эффекта». При этом между детектором и поверхностью возникает поток электронов, создающий т.н. минутный ток. СТМ позволяет распознавать объекты меньшего размера, чем атомы.

Наглядное пособие